经心外膜室速射频消融术：多中心安全性研究 -国际循环网

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经心外膜室速射频消融术：多中心安全性研究

Epicardial VT Ablation: A Multicenter Safety Study

作者:国际循环网日期:2010/7/20 11:06:00

当折返环位于心内膜深层或心外膜时，传统室性心动过速（室速，VT）消融方法可能失败。经心外膜可成功标测出这些折返环，但其安全性研究有限......

当折返环位于心内膜深层或心外膜时，传统室性心动过速（室速，VT）消融方法可能失败。经心外膜可成功标测出这些折返环，但其安全性研究有限。Sacher及其同事分析了来自3个中心913例室速消融的资料，其中17%进行了心外膜标测或消融，绝大部分采用了剑突下穿刺途径。其中5%发生了与心外膜途径相关的急性严重并发症：7例发生出血（>80 ml），1例发生冠状动脉狭窄。3例出现迟发并发症（1例心包炎症反应、1例迟发心包压塞以及1例2周后冠状动脉闭塞）。

J Am Coll Cardiol 2010 55: 2366-2372

版面编辑：沈会会责任编辑:其他